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進(jìn)口X射線熒光光譜儀的三個(gè)測(cè)試步驟來(lái)了解下
點(diǎn)擊次數(shù):1545 更新時(shí)間:2022-09-22
進(jìn)口X射線熒光光譜儀
主要用于水泥、金屬、采礦、石油、化學(xué)品、環(huán)境及食品等領(lǐng)域的無(wú)損元素分析。理論上可以測(cè)量元素周期表中鈹以后的每一種元素,在實(shí)際應(yīng)用中,有效的元素測(cè)量范圍為9號(hào)元素到92號(hào)元素,濃度范圍從100%至亞ppm級(jí)。
進(jìn)口X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好,測(cè)量速度快,靈敏度高的特點(diǎn)。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結(jié)果,結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平,分析時(shí)間短。
進(jìn)口X射線熒光光譜儀主要由以下幾部分組成:激發(fā)系統(tǒng),主要部件為X射線管,可以發(fā)出原級(jí)X射線(一次X射線),用于照射樣品激發(fā)熒光X射線;分光系統(tǒng),對(duì)來(lái)自樣品待測(cè)元素發(fā)出的特征熒光X射線進(jìn)行分辨(主要為分光晶體);探測(cè)系統(tǒng),對(duì)樣品待測(cè)元素的特征熒光X射線進(jìn)行強(qiáng)度探測(cè);儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),處理探測(cè)器信號(hào),給出分析結(jié)果。
X射線熒光光譜儀
進(jìn)口X射線熒光光譜儀
的測(cè)試步驟:
(1)選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數(shù)法、半基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法等,制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法,常用粉末壓片法制樣,采用基本參數(shù)法測(cè)試。
?。?)將制備好的樣片裝進(jìn)樣品杯,放入樣品交換器中,自動(dòng)進(jìn)樣至樣品室,X射線管發(fā)出原級(jí)X射線照射樣品,激發(fā)出待測(cè)元素的熒光X射線。
?。?)樣品輻射出的熒光X射線通過(guò)分光晶體,將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線,由探測(cè)器測(cè)量各譜線的強(qiáng)度,根據(jù)選用的分析方法換算成元素濃度,得到樣品中待測(cè)元素含量。
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